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性能与结构表征设备

薄膜热电参数测试系统(B-12)


1.设备名称:薄膜热电参数测试系统(B-12

2. 型号:嘉仪通/MRS-3RT

3.厂家:武汉嘉仪通

4.功能:用于测试微纳薄膜材料及薄片的seebeck系数和电阻率,包括金属薄膜、半导体及化合物材料、高分子聚合物等材料。

5.技术参数:

1)测试气氛:空气

2seebeck系数:S 8µV/K; 电阻率:0.1µΩ•m ~ 1000KµΩ•m

3)分辨率:seebeck系数0.05µV/K; 电阻率0.05µΩ•m

4)相对误差:seebeck系数≤ ±7%,电阻率≤ ±5%

5)样品尺寸:长×宽 (10-18)×(4-14)mm2,薄膜厚度:50nm~2mm

联系人:周老师wuxingzhou@hnu.edu.cn

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